Malvern ® Instruments 的杰出新品 Morphologi ® G3 将亮相美国 2007 年 AAPS 年会暨展览会

对于当今许多制药业流程的开发和控制来说，了解并详知颗粒的形状和大小至关重要。Malvern ® Instruments 生产的Morphologi ® G3自动颗粒表征系统是一种新型分析工具，可以提供具有统计意义的高质量颗粒大小和形状信息。Morphologi G3 是在其前身G2成功应用的基础上开发而成，新增了全自动样本分散设备，并大幅扩展了可视化与数据分析方面的自动化程度和选择性。该产品将于11月11日至15日在加州圣地亚哥举行的2007 年AAPS年会暨展览会上展出，这是它在北美对首次亮相。

Morphologi G3 可提供显微镜质量级别的图像，能在仅有少量用户干预甚至无需用户干预的情况下对数十万颗粒进行快速分析，并给出具有统计意义的数据。对于任何分析过程而言，良好的样本准备是重要的先决条件，而 Morphologi G3 一个主要的进步便是完全集成式干粉分散系统。它能够通过软件对所有的分散参数进行精确控制，从而确保各种样本以一致和可控的颗粒方向实现高重复性干粉分散。样本完全处于封闭状态，系统可轻松地分配大批量物料和准备多等分试样。

Morphologi G3 是使用标准操作程序 (SOP) 的全自动设备，可消除由于采用手动显微镜方法而由用户导致的任何偏差，SOP 还支持直接方法开发和简便电子传输功能。Morphologi G3 具备自动校准功能，符合 21CFR 第 11 部分的要求，并可进行完整的 IQ/OQ 归档，从而确保了该系统的精确性、可重复性以及所有数据的安全性和有效性。

有关产品的全部详情，请访问：http://www.malvern.com/morphologi

Malvern @ IPB 2008 展台号A303

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